STATISTICA Industrie
STATISTICA Basis wird für industrielle Fragestellungen durch das Zusatzprodukt
STATISTICA Industrie komplettiert. Es verbindet auf die Industrie zugeschnittene statistische Verfahren und Grafiken mit der Leistungsfähigkeit und leichten Bedienbarkeit der
STATISTICA-Technologie.
Damit Sie das Potenzial unserer Software voll ausschöpfen können, bieten wir regelmäßig Schulungskurse in unserem Hamburger Schulungszentrum und Inhouse-Schulungen beim Kunden an (siehe Kursangebot). Unser Dienstleistungsspektrum umfasst auch die Beratung zu Versuchsplanung, Prozessanalyse, Qualitätssicherung und Six-Sigma-Strategien sowie das Coaching Ihrer Mitarbeiter in mehrtägigen Projekten vor Ort.
Informationen zu den Modulgruppen von STATISTICA Industrie:
Modulgruppe Versuchsplanung

Beachten Sie bitte auch unser auf CD-ROM erhältliches Seminar
"STATISTICA-Einführung in die softwaregestützte Planung und Auswertung von Versuchen".
Versuchsplanung bietet eine Vielzahl von Verfahren
zum Aufstellen von industriellen Versuchsplänen und zur Auswertung
systematischer Versuchsreihen: faktorielle Zweistufenpläne
(2k-p-Pläne mit Blockanlage), Siebpläne für über
100 Faktoren (einschließlich Plackett-Burman-Plänen),
Suchalgorithmen für Zweistufenpläne mit maximaler Unvermengtheit der
Interaktionseffekte, faktorielle Dreistufenpläne
(3k-p-Pläne mit Blockanlage, Box-Behnken-Pläne),
kombinierte Pläne für 2- und 3-stufige Faktoren, zentral
zusammengesetzte Pläne (Wirkungsflächenpläne),
Versuchspläne für Lateinische Quadrate, robuste Versuchspläne
(orthogonale Felder nach Taguchi), Versuchspläne für Mischungen und
Simplex-Flächen (wahlweise mit Restriktionen), Eckpunkte und Zentroide
für Simplex-Flächen und Mischungen, sowie D- und A-optimale
Versuchspläne für faktorielle Pläne, Flächen und
Mischungen. Die implementierten Verfahren zur Plangenerierung und Auswertung
darauf bezogener Versuche werden in den folgenden Abschnitten beschrieben:
Bei der
Analyse von faktoriellen Versuchsplänen, Wirkungsflächenplänen
und Versuchsplänen für Mischungen können verschiedene Modelle an
die Versuchsdaten angepasst werden. Dabei lassen sich auch unbalancierte und
unvollständige Pläne behandeln.
STATISTICA berechnet die
verallgemeinerte Inverse der Matrix
X'X (
X bezeichnet die
Versuchsplanmatrix), um die schätzbaren Effekte und die aus Vermengung
entstandenen Aliasse anderer Effekte zu bestimmen. Eine tabellarische
Übersicht der Aliasse und der Parameterschätzungen für alle
nicht-redundanten Effekte wird erstellt. Sie können ausgewählte
Effekte in das Modell auf- bzw. aus dem Modell herausnehmen und die dadurch
hervorgerufene Veränderung der Anpassung beobachten. Alle Analysen lassen
sich mit kodierten oder unkodierten Faktoren durchführen. Eine große
Zahl von Ausgabeoptionen zur Anzeige von Parameterschätzungen und
ANOVA-Ergebnissen sind verfügbar. Analytische und grafische Optionen
stehen für die aus den Faktoreinstellungen prognostizierbaren
Versuchsgrößen (Mittelwerte, Anpassungsflächen) zur
Verfügung und werden nachfolgend im Zusammenhang mit den jeweiligen
Designs beschrieben.
Zur
Analyse der Residuen eines gegebenen Modells berechnet
STATISTICA
Prognosewerte und Residuen mit Standardfehler, benutzerdefinierte
Prognoseintervalle, Konfidenzintervalle für prognostizierte Werte und
Residuen, Residuen für gelöschte Beobachtungen, studentisierte
Residuen, Leverage-Werte, Mahalanobis- und Cook-Distanzen und
DFFIT- und
standardisierte
DFFIT-Werte. Alle Residualstatistiken lassen sich zum
Zwecke weiterer Analysen speichern (z.B. Berechnung serieller Korrelationen mit
dem Modul
Zeitreihen). Die
Residualstatistiken können in der Reihenfolge der Beobachtungen
(Fallzahlen) oder nach Größe sortiert ausgegeben werden, was die
Ausreißerdiagnostik erleichtert. Zur Modellanpassung und
Ausreißerdiagnostik dienen Histogramme der Residuen und Prognosewerte,
Scatterplots der Residuen gegen die Prognosewerte oder Fallzahlen. In allen
Grafiken lassen sich Ausreißer durch Fallnummern oder Labels
identifizieren. Ein wichtiges Werkzeug zur Bewertung der Modellgüte sind
Box-Cox-Transformationen für abhängige Messgrößen
(Response-Variablen), deren
Lambda-Werte mit Maximum-Likelihood
geschätzt werden. Ein Plot der Quadratsummen von Residuen gegen Lambda mit
zugehörigen Konfidenzgrenzen ist abrufbar.
Einzigartige Optionen in
STATISTICA
ermöglichen die interaktive Optimierung einer oder mehrerer
Response-Variablen. Die Faktoreinstellungen für Minimum, Maximum oder
Sattelpunkt der Wirkungsflächen zweiter Ordnung werden berechnet. Um die
Krümmung und Orientierung von quadratischen Wirkungsflächen zu
bestimmen, werden deren kritische Werte gemeinsam mit den Eigenwerten und
Eigenvektoren berechnet. Zu beachten ist, dass die Optionen der
Wunschfunktionen für Mischungspläne nicht auf der einfachen
Reparametrisierung des Mischungsmodells zu einem Wirkungsflächenmodell
ohne Nebenbedingungen beruhen (was zu Fehlresultaten wie optimalen
Faktoreinstellungen für ungültige Mischungen führen kann),
sondern auf der Grundlage des aktuellen (restringiert angepassten)
Mischungsmodells. Bei der Suche nach optimalen Faktoreinstellungen mit einer
Wunschfunktion für eine oder mehrere Response-Variablen wird also
sichergestellt, dass nur restringierte (Mischungs-) Versuchsregionen untersucht
werden und die resultierenden Faktoreinstellungen gültige Mischungen
darstellen.
STATISTICA stellt viele grafische Optionen für die
Visualisierung der Prognosewerte von Response-Variablen als Funktion jedes
einzelnen Faktors in der Analyse zur Verfügung. Die restlichen Faktoren
werden jeweils konstant gehalten. Die erwünschten Wirkungen auf eine oder
mehrere Response-Variablen lässt sich in einer Wunschfunktion anzeigen,
die auf den zugehörigen Prognosewerten basiert. Sie können die
Profile der Wunschfunktion und prognostizierten Response-Werten über eine
benutzerdefinierte Stufenzahl für jeden Faktor plotten.
Darüber hinaus lassen sich die Wunschfunktion in
3D-Flächenplots oder Konturenplots darstellen and Matrizen solcher Plots
für alle Faktoren in der Analyse abfordern (siehe die linke Abbildung).
Alle Einstellungen wie Faktorgitter oder Wunschfunktion können schnell
für interaktive Analysen verändert werden (Sie können
beispielsweise bestimmte Response-Variablen aus der Analyse ausschließen,
um die Auswirkung auf die Gesamt-Wunschfunktion zu beobachten). Die
Spezifikationen für komplexe Wunschfunktionen lassen sich speichern und
für spätere Analysen mit gleichen Response-Variablen wieder
verwenden. Mit Hilfe eines implementierten Rechenverfahrens oder einer
Gittersuche in der Grafik wird das Optimum der Wunschfunktion bestimmt. Zu
beachten ist, dass Optionen für Wunschprofile auch in den Modulen
Allgemeine Lineare Modelle
(ALM), Allgemeine
Regressionsmodelle (ARM) und Allgemeine Dsikriminanzanalytische Modelle
(ADM) (für kategoriale Response-Variablen) angeboten
werden.
Das
Modul
Versuchsplanung enthält einen Katalog aller zweistufigen
Standardpläne minimaler Aberration (vgl. Box und Draper, 1987; Box, Hunter
und Hunter, 1978; Montgomery, 1991). Der Benutzer kann die Versuchspläne
generieren, die Reihenfolge der Runs randomisieren und dem Plan leere Spalten
zur Aufnahme von Messwerten hinzufügen. Darüber hinaus lassen sich
die Faktoreinstellungen spezifizieren und kodieren
(-1, +1),
Replikationen anfordern, Nullpunkte hinzufügen oder eine Faltung
(fold-over) des Originalplanes vornehmen.
STATISTICA zeigt die
Generatoren für den fraktionierten Plan, die Blockgeneratoren, sowie die
Aliasmatrix der Haupteffekte und Interaktionen an. Das Modul
Versuchsplanung führt automatisch eine vollständige ANOVA
für die Versuchsdaten durch. Der Benutzer steuert die Aufnahme von
Effekten und Interaktionen in das Modell. Er kann sich die Korrelationen
zwischen den Spalten der Versuchsplanmatrix
(X), die Inverse der Matrix
X'X (d.h. die Kovarianz- und Korrelationsmatrix der
Parameterschätzungen) anzeigen lassen. Die Software berechnet
Parameterschätzwerte des ANOVA-Modells, Koeffizienten für kodierte
oder unkodierte Faktorstufen, sowie Prognosewerte für
benutzerspezifizierte Faktorstufen. Für die genannten Schätzwerte
sind jeweils auch Standardfehler und Konfidenzintervalle verfügbar.
Wenn der Versuchsplan zumindest partiell wiederholt wurde, berechnet
STATISTICA eine ANOVA-Tabelle mit dem geschätzten reinen Fehler und
führt einen Test auf Fehlanpassung (lack-of-fit) durch.
Enthält der Versuchsplan Nullpunkte, ist ein Krümmungstest zur
Prüfung nichtlinearer Effekte möglich. Der Benutzer kann die Tabelle
der Mittelwerte und Randmittelwerte mit den jeweiligen Konfidenzintervallen
ausgeben lassen. Zahlreiche Optionen stehen für die grafische Darstellung
der Ergebnisse zur Verfügung: Paretodiagramme der Effekte,
Normalverteilungsplots der Effekte, Quadrat- und Würfel-Plots,
Mittelwerte- und Interaktionsplots mit Konfidenzintervallen der
Randmittelwerte, sowie Wirkungsflächen- und Wirkungskonturen-Plots.
Daneben lassen sich die in den vorangegangenen Abschnitten beschriebenen
Funktionen für Residualanalysen und Optimierung von Response-Variablen
aufrufen.
Das Modul
Versuchsplanung
ermöglicht neben der Aufstellung von 2
k-p-Standardplänen
die Suche nach fraktionierten faktoriellen Plänen mit minimaler Aberration
bei minimaler Vermengung. Diese Pläne können Blöcke, mehr als
100 Faktoren und ggf. mehr als 2000 Runs ausweisen. Sie ermöglichen die
Bewertung einer größeren Anzahl von (ausgewählten)
Interaktionen als die gewöhnlichen Box-Hunter-Pläne. Bei vorgegebener
Auflösung lassen sich entweder alle (nicht-isomorphen) Sets von
Generatoren auffinden oder Sets von Interaktionen spezifizieren, die unvermengt
bleiben sollen. Zusätzlich zu dem Kriterium "minimaler Aberration" kann
auch das Kriterium "maximaler Unvermengtheit" gewählt werden, womit bei
vorgegebener Auflösung ein Plan mit der maximal möglichen Anzahl von
unvermengten Effekten erzeugt wird. Diese Pläne lassen sich wie
2
k-p-Versuchspläne analysieren und durch Hinzufügen von
Replikationen, Nullpunkten und Faltung erweitern.
Das Modul
Versuchsplanung ermöglicht das Aufstellen und Auswerten
von Siebplänen für eine große Anzahl von Faktoren (Screening).
STATISTICA generiert Plackett-Burman-Pläne (Hadamard-Matrix) und
gesättigte fraktionierte faktorielle Pläne mit bis zu 127 Faktoren.
Wie bei den 2
k-p-Plänen können Replikationen angefordert,
Nullpunkte hinzugefügt sowie der Versuchsplan gedruckt oder gespeichert
werden. Für die Auswertung von Siebplänen stehen die gleichen
Optionen wie für 2
k-p-Pläne zur
Verfügung.
Eine weitere Gruppe von
implementierten Versuchsplänen sind 3
k-p-Standardpläne mit
Blockanlage und Box-Behnken-Pläne. Auch hier kann der Benutzer den
Versuchsplan randomisieren, Replikationen anfordern, einzelne Runs
hinzufügen, den Plan und Block-Generatoren anzeigen lassen und die
Aufnahme von Effekten in das Modell steuern. Bei der Analyse von
3
k-p-Plänen werden die Haupteffekte nach linearen und
quadratischen Effekten gegliedert, die Interaktionen je nach den beteiligten
Komponenten in linear-linear, linear-quadratisch, quadratisch-linear und
quadratisch-quadratisch. Die ANOVA-Tabelle liefert separate Tests für
lineare und quadratische Komponenten, sowie für zusammengefasste Effekte.
Darüber hinaus stehen für die Auswertung von
3
k-p-Plänen die gleichen Optionen wie für
2
k-p-Pläne zur Verfügung. Das Modul unterstützt auch
kombinierte Versuchspläne mit zwei- und dreistufigen Faktoren.
Der Benutzer kann aus einem Katalog
von Standardplänen wählen, einschließlich kleiner zentral
zusammengesetzter Pläne nach Plackett-Burman. Diese Pläne lassen sich
durch Hinzufügung von sog. Sternpunkten unterhalb der
niedrigsten und oberhalb der höchsten Faktoreinstellung aus dreistufigen
Plänen erzeugen
(central composite designs). Die Sternpunkte sind
einander gegenüber zentriert oder auf Drehbarkeit und Orthogonalität
der Faktorstufen bezogen. Die Optionen zur Auswertung entsprechen denen, die
für 3
k-p und 2
k-p-Pläne weiter oben beschrieben
sind.
Der Benutzer kann
Versuchspläne aus Lateinischen Quadraten mit bis zu neun Stufen erzeugen
und auswerten. Daneben bietet das Modul auch Griechisch-Lateinische Quadrate
und Hyper-Griechisch-Lateinische Quadrate an. Wenn alternative Lateinische
Quadrate verfügbar sind, kann die Auswahl vom Benutzer gesteuert oder dem
Programm überlassen werden. Auch diese Versuchspläne lassen sich
randomisieren, um Eingabespalten erweitern und speichern. Zusätzlich zur
ANOVA-Tabelle berechnet
STATISTICA die Randmittelwerte für alle
Faktoreinstellungen und stellt diese grafisch dar.
Das Modul
Versuchsplanung
generiert nach Taguchi-Methoden orthogonale Felder für bis zu 31 Faktoren
und erlaubt eine Auswertung von Versuchen mit bis zu 65 Faktoren. Dabei lassen
sich neben den Haupteffekten auch Aliasse der Zweifach-Interaktionen
untersuchen. Die in robusten Plänen gebräuchlichen
Signal-Rausch-Verhältnisse
(Signal-to-Noise ratios, S/N ratios)
werden für folgende Problemstellungen berechnet: (1)
Minimalwert =
Bestwert (Smaller-the-better), (2)
Nominalwert = Bestwert
(Nominal-the-best), (3)
Maximalwert = Bestwert (Larger-the-better),
(4)
Signiertes Ziel (Signed target), (5)
Ausschussanteile (Fraction
defective), sowie (6)
Ausschussanzahlen pro Intervall als
Akkumulationsanalyse (Number defective per interval, accumulation
analysis). Darüber hinaus können auch nicht transformierte Daten
analysiert werden. Dadurch ist es möglich, beliebige, mit Hilfe von
Datenblattformeln oder
STATISTICA Visual
Basic definierte Signal-Rausch-Verhältnisse zu erstellen und diese
im Modul
Versuchsplanung auszuwerten. Mit umfassenden deskriptiven
Statistiken kann sich der Benutzer die berechneten
Signal-Rausch-Verhältnisse ausgeben lassen. Die ANOVA-Tabelle
ermöglicht dem Benutzer, Effekte in den Fehlerterm interaktiv aufzunehmen
oder zu entfernen. Der
Eta-Wert, welcher das
Signal-Rausch-Verhältnis repräsentiert, wird für optimale
Einstellungen der Faktorstufen prognostiziert. Auch hier kann der Benutzer
Effekte aufnehmen oder ausschließen und Stufen für ausgewählte
Faktoren spezifizieren. Die Mittelwerte von
Eta sind für die
Faktorstufen übersichtlich in eine Grafik umgesetzt. Bei der
Akkumulationsanalyse kategorialer Daten lassen sich sowohl Balken- als auch
Linienplots erstellen. In diesen Plots werden die kumulierten Anteile über
die Kategorien innerhalb jeder Stufe der ausgewählten Faktoren
dargestellt. Zu beachten ist, dass die unterschiedlichen Typen von
Wunschfunktionen für einzelne oder mehrere Variablen auch im Zusammenhang
mit 2
k-p-Plänen, 3
k-p-Plänen und zentral
zusammengesetzten Plänen (oder in
ALM,
ARM,
ADM) optimiert werden
können.
Diese Verfahren beinhalten Optionen für das Aufstellen von Simplex-Gitter-
und Simplex-Zentroid-Plänen für Mischungen. Die Versuchspläne
können durch zusätzliche innere Punkte und einen Zentroid erweitert
werden. Der Benutzer kann "untere" (größer-gleich) Nebenbedingungen
für jeden Faktor angeben, worauf die Software automatisch den
entsprechenden Versuchsplan konstruiert, der auf dem durch die Nebenbedingungen
definierten Sub-Simplex gegeben ist. Für die Behandlung unterer und oberer
Nebenbedingungen stehen allgemeine Verfahren zur Konstruktion von
Versuchsplänen in restringierten Versuchsgebieten zur Verfügung
(siehe unten). Die Software berechnet Koeffizienten für Pseudokomponenten
und Komponenten in ihren originalen Einstellungen, sowie die zugehörigen
Standardfehler, Konfidenzintervalle und Signifikanztests. Als Standard sind
lineare, quadratische, spezielle kubische und vollständige kubische
Modelle verfügbar. (Hinweis: Das Modul
Allgemeine Lineare Modelle
(ALM) bietet ebenfalls Verfahren zur Analyse von Mischungsversuchen
an.) Spezielle Grafiken fassen die Ergebnisse von Mischungsversuchen zusammen.
Dazu zählen Plots der Wirkungsspuren für benutzerdefinierte
Referenzmischungen sowie ternäre Flächen- und Konturenplots.
Enthält der Versuch mehr als drei Komponenten, können die
Flächen- und Konturenplots für benutzerdefinierte Werte der nicht im
Plot dargestellten Komponenten erstellt werden. Darüber hinaus bietet
STATISTICA auch für Mischpläne das breite Spektrum von
Auswertungsoptionen der faktoriellen Versuchspläne an. Die Optionen
für Wirkungs-/Wunschprofile beruhen bei diesen Plänen nicht auf einer
verzerrenden Umparametrisierung des Mischungsmodells in ein nichtrestringiertes
Wirkungsflächenmodell sondern direkt auf dem restringierten
Mischungsmodell. Dadurch beschränkt sich die Suche nach den optimalen
Faktoreinstellungen bei gegebener Wunschfunktion für Response-Variablen
auf das restringierte Mischungsgebiet und resultierende Faktoreinstellungen
addieren sich stets zur Mischungssumme.
Das Modul
Versuchsplanung enthält
Verfahren zur Konstruktion von Eck- und Zentroid-Punkten für
Simplex-Flächen, die linearen Nebenbedingungen unterworfen sind. Der
Benutzer kann obere und untere Grenzen für Mischungskomponenten angeben
und lineare Nebenbedingungen der Form
x1 + .. + xi +
x0 >= 0 für diese Faktoren spezifizieren. Die Software
berechnet dann für das restringierte Versuchsgebiet die Lage der Eckpunkte
sowie optional die Lage der Zentroid-Punkte. Die Nebenbedingungen werden
sequentiell verarbeitet und auf Redundanzen geprüft. Zusätzlich zu
den allgemein verfügbaren Ausgabeoptionen für Versuchspläne
lassen sich Informationen über das restringierte Versuchsgebiet abrufen.
Der Benutzer kann die Eck- und Zentroid-Punkte in 3D- und ternären
Scatterplots (für Mischungen) betrachten. Basierend auf der Kenntnis der
Eck- und Zentroid-Punkte können so die Charakteristika des Versuchsplanes
bewertet werden. Diese Punkte können anschließend an die Verfahren
zur Bestimmung optimaler Pläne (siehe unten) übergeben werden, um
Pläne mit einer minimalen Anzahl von Runs zu konstruieren.
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Die Software
bietet leistungsfähige Algorithmen zur Optimierung von Versuchsplänen
für Wirkungsflächen oder Mischungen. Der Benutzer kann Modellformen
(z.B. linear, quadratisch) spezifizieren und zwischen den Methoden
D-
oder
A-Optimalität wählen. Eine Liste von Startpunkten
(candidate points) für den Versuchsplan lässt sich eingeben
oder aus einer
STATISTICA-Datendatei einlesen, wenn faktorielle
Pläne oder Mischpläne zuvor gespeichert wurden. Die Punkte für
den endgültigen Plan lassen sich in dieser Liste markieren. Damit kann der
Benutzer vorhandene Versuchspläne erweitern oder sogar "reparieren". Das
Modul enthält alle gebräuchlichen Suchalgorithmen zur Konstruktion
D- und
A-optimaler Pläne: die sequentielle Methode (Dykstra),
die Methode des einfachen Austauschs (Wynn-Mitchell), Mitchells
DETMAX-Algorithmus (Austausch mit Exkursionen), die ursprüngliche
Fedorov-Methode des simultanen Austauschs und eine modifizierte Fedorov-Methode
des simultanen Austauschs. Für den endgültigen Plan berechnet die
Software neben den üblichen Matrizen die Determinante der Matrix
X'X sowie die Maße für
D-, A- und
G-Effizienz. Die
Punkte des endgültigen Versuchsplanes sind in 3D- und ternären
Scatterplots (für Mischungen) darstellbar.
STATISTICA unterstützt Versuchspläne, bei denen der eine Faktor (Sub-Plot) innerhalb des anderen Faktors (Whole-Plot) variiert wird. Damit werden Designs unterstützt, bei denen manche Faktoren leichter (Easy-to-change-Faktor) als andere (Hard-to-change-Faktor) eingestellt werden können. Split-Plot-Designs können innerhalb
STATISTICA mit den Produkten
VEPAC 
oder den
Höheren Modellen von
STATISTICA Professionell (Allgemeine Lineare Modelle) analysiert werden.
Mit "Botched"-Designs werden Versuchspläne auch dann korrekt analysiert, wenn die Faktoren im Versuch nicht exakt eingestellt werden können.
STATISTICA bietet eine große Anzahl
von Berechnungsverfahren zur Analyse von Versuchsdaten und zur Anpassung von
ANOVA/ANCOVA-ähnlichen Designs für stetige oder kategoriale
Ausgabevariablen. Insbesondere enthält
STATISTICA vollständige
Implementierungen von:
- Allgemeine Lineare Modelle
(ALM) und Allgemeine
Regressionsmodelle (ARM) (in den Höheren Modellen von STATISTICA Professionell) mit
differenzierten Verfahren zur Modellentwicklung (schrittweise und
Beste-Subset-Auswahl von Prädiktoren),
- Verallgemeinerte Lineare
Modelle (VLM) (in den Höheren Modellen von STATISTICA Professionell), mit schrittweise und Beste-Subset-Auswahl von
Prädiktoren in ANOVA/ANCOVA-ähnlichen Designs für verschiedene
Alternativen zu linearen Kleinste-Quadrate-Modellen wie Logit-, multinomiale
Logit- und Probit-Modellen,
- Allgemeine
Diskriminanzanalytische Modelle (ADM) (in den Explorativen Verfahren von STATISTICA Professionell), die
den Einsatz von ANOVA/ANCOVA-ähnlichen Versuchsplänen zur
Klassifikation sowie den Gebrauch der schrittweisen und Beste-Subset-Auswahl
von Prädiktoren ermöglicht. ADM enthält außerdem
Wunschprofile und Optimierungsverfahren, die sich zur Bestimmung von
Faktorkombinationen, -stufen und/oder -werten mit maximaler posteriorer
Klassifikationswahrscheinlichkeit für eine oder mehrere Kategorien der
abhängigen (Ausgabe-) Variablen eignen,
- Das Zusatzprodukt Variance Estimation and Precision (VEPAC)
bietet umfangreiche Techniken zur Analyse von Designs mit Faktoren, von denen einige nur schwer eingestellt werden können.Neben der traditionellen ANOVA-Methode zur Parameterschätzung enthält VEPAC das Schätzverfahren Restricted Maximum Likelihood (REML).
- Klassifikations- und
Regressionsbäume (Explorativen Verfahren von STATISTICA Professionell) und
General CHAID models (in STATISTICA
Data Miner), die eine Bestimmung der Effizienz
von ANOVA/ANCOVA-ähnlichen Versuchsplänen zur Entwicklung
nichtlinearer hierarchischer Klassifikations- oder Regressionsbäume
ermöglichen.
STATISTICA lässt sich daher auf kreative und innovative
Weise in der Forschung zur Qualitätssicherung einsetzen, wenn die
interessierende abhängige Variable kategorialer Natur ist, oder wenn die
Wirkungen der Prädiktorvariablen (Effekte) nichtlinear Natur sind.
Modulgruppe Prozessanalyse
Prozessanalyse besteht aus Modulen mit Verfahren der
Prozessfähigkeitsanalyse, der Analyse der Wiederhol- und
Vergleichpräzision von Messungen (R&R), der Weibull-Analyse und der
Erzeugung von Stichprobenplänen, welche nachfolgend beschrieben werden.
Ursache-Wirkungs-Diagramme (
Fishbone- oder
Ishikawa-Diagramme) bilden Prozessfaktoren und Schritte der Qualitätsverbesserung übersichtlich ab. Damit unterstützt die Prozessanalyse die erste Phase des Zyklus'
Define-Measure-Analyze-Improve-Control (
DMAIC, Definieren-Messen-Analysieren-Verbessern-Steuern) in Six-Sigma-Prozessen.
Das Modul
Prozessanalyse enthält eine breite Auswahl von Optionen zur
Berechnung von Prozessfähigkeitsindizes
(Cp, Cr, Cpk, Cpl, Cpu,
Cpm), Prozessleistungsindizes
(Pp, Pr, Ppk, Ppl, Ppu) und
zugehörigen Toleranzgrenzen. Ergebnisse werden als Histogramm mit
Prozessbereich, Spezifikationsgrenzen und Normalverteilungsdichte
veranschaulicht. Die wichtigsten dieser Indizes sind nicht nur für
normalverteilte Messwerte verfügbar, sondern auch für stetige
Verteilungen wie
Beta, Exponential, Extremwert (Typ I, Gumbel), Gamma,
Lognormal, Rayleigh und
Weibull, sowie für allgemeine
Nicht-Normalverteilungen (mittels Johnson- und Pearson-Kurven).
STATISTICA berechnet Maximum-Likelihood-Schätzungen für die
Parameter dieser Verteilungen und stellt zahlreiche Optionen zur Bewertung
ihrer Anpassungsgüte an die Daten bereit. Dazu zählen Tabellen mit
beobachteten und erwarteten Häufigkeiten, die Kolmogorov-Smirnovsche
d-Statistik, Histogramme, Probability-Probability
(P-P)-Plots und
Quantil-Quantil
(Q-Q)-Plots. Außerdem gibt es eine Option zur
automatischen Anpassung aller Verteilungen an die Daten und der Auswahl des
bestangepassten Verteilungstyps.
STATISTICA erlaubt die Überprüfung der Prozessfähigkeiten, die durch Binomiale Häufigkeiten oder Poisson-Raten oder -Häufigkeiten charakterisiert sind. Berechnet werden unterschiedliche grafische Zusammenfassungen wie Regelkarten (
P-Karten für binomiale Häufigkeiten oder Anteile,
U-Karten für Defekthäufigkeiten oder -raten). Zusätzlich wird entweder eine Binomial-Verteilung oder eine Poisson-Verteilung an die Daten angepasst und der erwartete PPM- (Parts-per-million-defective) Wert und die jeweilige Prozessfähigkeit geschätzt.
Prozessanalyse unterstützt die Berechnung der Messmittelfähigkeit auch nach Standards, wie sie in der Automobilindustrie gefordert werden. Angeboten werden Berechnungsmethoden nach
BMW,
Bosch /
Daimler-Chrysler und
Ford.
Prozessanalyse unterstützt die Berechnung von Qualitätsfähigkeits-Kenngrößen nach den Vorgaben der
DIN 55319 und der
ISO 21747. Bei Entnahme aufeinander folgender Stichproben mit Beobachtungen aus einem laufenden Herstellungsprozess werden Fähigkeitskenngrößen in Bezug auf eine oder mehrere gemessene Qualitätsmerkmale geschätzt. Beide Verfahren können mit nicht-normalverteilten Messungen und Ausreißern umgehen. Je nach vorliegender Verteilung berechnet
STATISTICA die Kenngrößen nach einem passenden Verteilungszeit-Modell.
Mit
STATISTICA lassen sich Untersuchungen
zur Wiederholbarkeit und Vergleichbarkeit (
R & R für
Repeatability and Reproducibility) von Messdaten aus ein- bis mehrfachen
Versuchen
(trials) sowohl analysieren als auch planen. Das Modul
berechnet nach Bedienern und Teilen gegliedert deskriptive Statistiken und
Spannweiten- oder Sigma-Karten. Außerdem werden Box-Whisker-Plots und ein
zusammenfassender
R&R-Plot erstellt. Die Variabilität zwischen
Versuchen (Wiederholbarkeit), Prüfern (Vergleichbarkeit), Teilen oder
deren Interaktion werden als Varianzkomponenten geschätzt. Wenn diese
Komponenten nicht aus Spannweiten sondern aus den mittleren Quadraten der ANOVA
abgeleitet werden, erfolgt auch eine Berechnung der zugehörigen
Konfidenzintervalle. Daneben sind prozentuale Toleranzwerte, die
Prozessvariation und die Gesamtvariation verfügbar. Eine umfassende
Auswahl von Verfahren zur Schätzung der Varianzkomponenten für
zufällige Effekte wird jeweils vom Modul
Varianzkomponenten und
Allgemeine Lineare Modelle in den
Höheren Modellen von
STATISTICA Professionell
bereitgestellt.
Die Weibull-Analyse nutzt
Eigenschaften der Weibull-Verteilung zur Schätzung der
Zuverlässigkeit bzw. der Ausfallszeit von Industrieprodukten. Mit
STATISTICA lassen sich Weibull-Verteilungsplots für
vollständige, einfach-zensierte und mehrfach-zensierte Daten erstellen.
Die zugehörigen Parameter und ihre Konfidenzintervalle werden aus
Ausfallraten-Plots der Ausfallreihenfolge (
failure orders) abgeleitet.
Als Schätzverfahren für vollständige und zensierte Daten dienen
Maximum-Likelihood und gewichtete Faktoren. Daneben kommen modifizierte
Momentschätzer zum Einsatz, die unverzerrt im Hinblick auf Mittelwert und
Varianz sind. Konfidenzintervalle werden sowohl für Form-, Skalen- und
Lageparameter als auch für Perzentile berechnet. Die Software
ermöglicht grafische Diagnosen der Anpassungsgüte und statistische
Anpassungstests nach Hollander-Proschan, Mann-Scheuer-Fertig oder
Anderson-Darling. Zu beachten ist, dass das Modul
Allgemeine Lineare Modelle
in den
Höheren Modellen von
STATISTICA Professionell Optionen zur Anpassung von verallgemeinerten linearen Modellen
aus der Familie der Exponentialverteilungen für normale und nicht-normale
Daten bereitstellt.
Für den Test von Hypothesen, die sich
auf kontinuierliche Messgrößen oder zählbare Attribute
(Mängel, Ausschuss) beziehen, lassen sich mit
STATISTICA wahlweise
feste oder sequentielle Stichprobenpläne erzeugen, und zwar für
normalverteilte Merkmale, Binomial-Anteile oder Poisson-Häufigkeiten.
Für feste Stichprobenpläne wird der zur Bestätigung oder
Widerlegung einer vorgegebenen Hypothese
H0 erforderliche Stichprobenumfang ermittelt und
die zugehörige Operationscharakteristik (
OC-Kurven) dargestellt.
Sequentielle Pläne werden mit erwarteten Run-Längen (unter
H0/H1)
generiert. Die Modulgruppe
Poweranalyse stellt ebenfalls Optionen zur Ermittlung des erforderlichen
Stichprobenumfangs und Schätzung der Teststärke (Macht) für
viele Forschungsdesigns (z.B. ANOVA) und andere Datentypen (z.B. für
binäre Zähldaten, zensierte Ausfallzeiten) bereit.
Modulgruppe Regelkarten
Regelkarten bietet eine breite Auswahl
an Verfahren der Qualitätssicherung mit präsentationsreifen
Regelkarten. Sie eignen sich besonders für Qualitätssicherungssysteme
unterschiedlichen Komplexitätsgrads auf Werkerebene (siehe auch
STATISTICA
Enterprise/SPC) ebenso wie für spezielle Analysen und
Six-Sigma-Vorhaben zur Qualitätssicherung.
Zur Beschleunigung von
routinemäßig durchzuführenden Arbeiten stehen Optionen zur
Automatisierung sowie Shortcuts der Benutzeroberfläche zur Verfügung.
Layout-Optionen für Grafiken und weitere Spezifikationen lassen sich als
System-Voreinstellungen und wiederverwendbare Vorlagen speichern.
Regelkarten verfügt über eine
leistungsfähige Funktionalität, mit deren Hilfe neue Prozeduren
entwickelt und dem System hinzugefügt werden können und Optionen zur
Integration von Qualitätssicherungsanalysen in bestehende Datenaufnahme-
und Monitoring-Systeme.
Weitergehende Informationen finden Sie zu folgenden Punkten:
Standardkarten
STATISTICA
generiert folgende Standardkarten zur Qualitätssicherung:
X-quer-Karten,
R-Karten,
S-Karten,
Np- und
P-Karten (Binomial-Statistik),
C- und
U-Karten (Poisson-Statistik),
CuSum-Karten
(cumulative
sum) für Ausreißerdiagnostik,
Moving-Range-Karten, Runs-Karten (für Einzelbeobachtungen),
MA-Karten
(moving average) und
EWMA-Karten
(exponentially-weighted moving average).
Außerdem sind Paretodiagramme zur Analyse von
Qualitätseinbußen verfügbar. Die meisten Variablen-Regelkarten
(z.B.
R-Karten) lassen sich wahlweise für Einzelbeobachtungen oder
Stichproben generieren und mit Six-Sigma-Grafiken kombinieren.
Sollwerte und Eingriffsgrenzen sind jeweils
benutzerdefiniert oder werden aus den Daten geschätzt (z.B. Mittelwerte,
Spannweiten, Anteile). Eingriffsgrenzen beziehen sich auf ein Mehrfaches der
Standardabweichung (z.B. ±3-Sigma), auf normale oder nichtnormale
(Johnson-Kurven) Perzentile (z.B.
p=0,01; 0,99) oder konstante Werte.
Für ungleiche Stichprobenumfänge lassen sich Regelkarten mit
variablen Eingriffsgrenzen oder standardisierten Werten erstellen. Eine
Qualtitätsregelkarte kann mehrere Sätze von Spezifikationen
einbeziehen und vom Benutzer vollständig den eigenen Bedürfnissen
entsprechend modifiziert werden.
Interaktives, analytisches Brushing. Das Modul
Qualitätsregelkarten bietet spezielle "intelligente"
Brushing-Verfahren zur Behandlung von Ausreißern (oder
Was-wäre-wenn-Analysen) in einzelnen oder parallel in einem Satz
von Regelkarten. Der Benutzer kann nach spezifizierten Kriterien (z.B.
Eingriffsgrenzen oder Runs Tests) einzelne oder Gruppen von Stichproben
auswählen, sie aus den Berechnungen für die Regelkarte
ausschließen (aber dennoch in der Karte anzeigen) oder gänzlich aus
der Karte entfernen. Die Ein- und Ausschlussbedingungen lassen sich auf mehrere
Karten parallel anwenden, so dass sie gleichzeitig per Brushing untersucht
werden können. So können beispielsweise in der
X-quer-Karte
markierte und ausgeschlossene Werte gleichzeitig aus den Histogrammen entfernt
werden.
Aktionen und Ursachen zuweisen. Der Anwender kann
Ausreißern (oder jedem anderen Punkt in der Karte) Ursachen, Aktionen
und/oder Kommentare zuweisen. Dies können Abkürzungen oder
längere Texte sein. Stichproben außer Kontrolle können in den
Karten entweder mit Hilfe der interaktiven Brushing-Funktion oder automatisch
durch die Software identifiziert und mit den Kommentaren versehen werden.
Flexible Alarmmeldungen. Eine Vielzahl von Optionen erlauben die
Festlegung von Kriterien, die Außer-Kontrolle-Bedingungen
definieren: Etwa die Verletzung von Runs-Tests oder die Überschreitung von
Spezifikationsgrenzen. Mit den Alarmfunktionen können nun verschiedene
Arten von Antworten auf bestimmte Ereignisse festgelegt werden:
Beispielsweise kann als Antwort auf eine außer Kontrolle
geratene Stichprobe der Bediener zunächst automatisch aufgefordert werden,
einen Grund dafür einzugeben; anschließend wird ein
STATISTICA
Visual Basic-Programm ausgeführt, das verschiedene Statistiken
berechnet und dann ein externes Programm (DLL) angestoßen, um den
verantwortlichen Ingenieur per E-Mail zu benachrichtigen. Diese Alarm-Optionen
können in einer Konfigurationsdatei gespeichert und für spätere
Regelkarten oder als Voreinstellung verwendet werden.
Supervisor- und Anwendermodus, Passwortschutz. Die
Editierfunktionen und Spezifikationen aller Regelkarten sowie die Grunddaten
können durch ein Passwort geschützt werden. Dies erlaubt die
Einrichtung eines Bedienermodus mit eingeschränktem Zugang zu den Karten
und Daten. Die Regelkarten können durch den verantwortlichen Ingenieur
erstellt und gespeichert werden, während der Bediener sie mit seinen
eingeschränkten Zugriffsmöglichkeiten laden kann.
Datenorganisation. Daten können auf verschiedene Weise
organisiert sein, so dass nahezu alle Formate in QR-Anwendungen
unterstützt werden. Stichproben und Teile lassen sich über eine
Stichproben-Kodierung oder über eine frei gewählte Anzahl von
Messungen pro Stichprobe (und Teil, siehe unten) identifizieren.
Short-Run-Karten
Standard-Variablen-Regelkarten
(X-quer, R, S, MA, EWMA)
und Attribut-Regelkarten
(C, U, Np, P) können auch für kurze
Produktionsdurchläufe verwendet werden (
Short-Run-Karten für
mehrere Teile oder Maschinen). Bei Short-Run Variablen-Regelkarten lassen sich
Sollwerte (Nominalwerte) für Teile (Nominal-Short-Run-Karte) vorgeben,
oder Zielwerte
(target) und Variabilitätswerte zur
Standardisierung. Optionen zur Sortierung der Stichprobenpunkte in der
jeweiligen Regelkarte und zur Darstellung in unterschiedlicher Reihenfolge sind
verfügbar. Als Datendatei gespeicherte Spezifikationen (Parameter)
für Teile sind auf neue Datensätze anwendbar.
STATISTICA
berechnet detaillierte Statistiken wahlweise für Teile oder Stichproben,
deren Kodierung in der Datendatei für jede Messung spezifiziert oder
nachträglich zugewiesen wird. Alle Optionen für Standardkarten (z.B.
Prozessfähigkeitsindizes, Runs Rules) stehen auch für
Short-Run-Karten zur Verfügung.
Optionen und Statistiken für Regelkarten
Eine Vielzahl von zusätzlichen QR-Statistiken sind abrufbar und
werden gemeinsam mit der Karte aktualisiert. Dazu gehören
Prozessfähigkeits- und Prozessleistungsindizes (z.B.
Cpk, Ppk, ),
Histogramme der jeweiligen Qualitätskenngrößen sowie sieben
verschiedene Runs-Tests. Standard-Variablen-Regelkarten lassen sich in eine
Verbundgrafik einbinden, beispielsweise eine
X-quer- und
R-Karte
mit Histogrammen für die Mittelwerte und Spannweiten. Ausreißer
(Stichproben außerhalb der Eingriffsgrenzen) oder mittels Runs-Tests
identifizierte auffällige Beobachtungswerte werden automatisch im Diagramm
hervorgehoben. Außerdem lassen sich Warngrenzen, (exponentiell
gewichtete) gleitende Mittelwerte oder Spezifikationsgrenzen hinzufügen.
Prozessfähigkeitsindizes für nicht-normale
Eingriffsgrenzen. Bei Stichproben mit schiefer Häufigkeitsverteilung
werden Fehlerraten oft unter- oder überschätzt, wenn sie aus der
Wahrscheinlichkeitsdichte einer Normalverteilung abgeleitet sind.
STATISTICA generiert auch Regelkarten, die nicht an diese
Verteilungsannahme gebunden sind. Die zugehörigen Eingriffsgrenzen
basieren dann auf der Anpassung von Johnson-Kurven an die ersten vier Momente
(Mittelwert, Standardabweichung, Schiefe und Exzess) der Daten. Dabei
können diese Momente aus den Daten geschätzt oder vom Benutzer
spezifiziert werden. Die errechneten Prozessfähigkeitsindizes beziehen
sich auf angepasste Johnson- oder Pearson-Kurven. In der Modulgruppe
Prozessanalyse
lassen sich darüber hinaus Fähigkeitsindizes für
Weibull-, Beta-
oder
Lognormal-Verteilungen erstellen.
Weitere Plots und Ergebnistabellen. Für die Mehrzahl der
Karten (einschließlich der
R-Karte) kann der Benutzer die
jeweilige Operationscharakteristik berechnen und grafisch umsetzen. Die exakten
Werte der in der Karte dargestellten Linien und Punkte lassen sich in einer
Ergebnistabelle einsehen. Außerdem kann
STATISTICA eine
Kartenvorlage produzieren, die der Ingenieur für Qualitätssicherung
später per Hand ausfüllt. Die im Modul
Qualitätsregelkarten erstellten Grafiken lassen sich wie alle
STATISTICA-Grafiken nachträglich bearbeiten und für weitere
Analysen speichern.
Multivariate Qualitätsregelkarten
Die
Multivariaten Regelkarten zur simultanen Analyse vieler Merkmale umfassen
Hotelling T²-Karten für Einzelwerte und Mittelwerte,
MEWMA-Karten für Einzelwerte und Mittelwerte,
MCUSUM-Karten für Beobachtungen, sowie
Multiple-Stream X-quer & R-Karten,
MR-Karten und
S-Karten für Beobachtungen und Stichprobenmittelwerte.
Diese Karten können in einer Echtzeit-Umgebung durch die webfähigen Produkte
STATISTICA Enterprise und
STATISTICA Monitoring and Alerting Server (
MAS) automatisiert werden, um mächtige hochentwickelte Systeme der Prozessüberwachung und Qualitätskontrolle aufzubauen.
STATISTICA Enterprise
Echtzeit-Qualitätssicherungssysteme und
externe Datenquellen. Alle Regelkarten und sonstigen Plots des Moduls
Regelkarten können mit den Daten
verknüpft und bei Vorliegen neuer Daten automatisch aktualisiert werden.
Für den Datentransfer von externen Datenquellen steht (optional)
das unternehmensweite SPC-System
STATISTICA-Enterprise zur Verfügung.
STATISTICA Enterprise/SPC ist ein integriertes Mehrbenutzer
Software-Paket, das alle Funktionen für eine unternehmensweite
Installation der statistischen Prozesslenkung (SPC) besitzt. Es
enthält eine zentrale Datenbank, bietet alle erforderlichen Werkzeuge zur
Verarbeitung und Handhabung von Daten aus mehreren Kanälen und koordiniert
die Arbeit mehrerer Werker, QS-Ingenieure und Verantwortlicher.
STATISTICA Enterprise/SPC bietet sehr flexible Einrichtungen zur
Integration der Verfahren des Moduls Qualitätsregelkarten in
Ihre unternehmensweite Datenbank und zum Aufbau eines firmenweiten Systems der Qualitätsüberwachung.
Modulgruppe Poweranalyse
StatSoft hat auf der Basis der Technologie seiner bewährten
Statistiksysteme ein neues Werkzeug zur effizienten Planung und Analyse von
Forschungsstudien entwickelt:
Poweranalyse ist ein
umfassendes Softwaretool, das den Anwender bei der Planung von
Stichprobengrößen für Forschungsvorhaben unterstützt. Es
bietet darüber hinaus eine Vielzahl von Hilfsmitteln, um alle Aspekte der
Macht (Power) von statistischen Testverfahren und der Berechnung von
Stichprobengrößen abzudecken.
Poweranalyse deckt folgende Fragestellungen ab:
Berechnung von Stichprobengrößen: Poweranalyse berechnet Stichprobengrößen als Funktion des
sogenannten Fehlers erster Art und Effektstärken in einer Vielzahl
statistischer Tests (z.B. Ein- und Zweistichproben-Tests, Kontraste,
Varianzanalysen, Chi-Quadrat, F-Tests oder Rang-Tests).
Schätzung von Vertrauensintervallen: Neuerdings wird in der
Statistik der Schätzung von Vertrauensbereichen starke Beachtung
geschenkt, und zwar sowohl in der Planung als auch in der Auswertung von
Ergebnissen. Die Software kann für viele wichtige statistische
Größen (z.B. standardisierte Effektstärke in der
Varianzanalyse, Korrelationskoeffizienten oder Unterschiede zwischen
Stichprobenanteilen) solche Vertrauensbereiche berechnen. Diese
geschätzten Werte können ihrerseits wieder für die Berechnung
von Stichprobengrößen in Folgestudien benutzt werden.
Berechnung von StatistischenVerteilungen: Neben den bereits in
STATISTICA verfügbaren Verteilungen bietet Poweranalyse spezielle Optionen für die Güte-Berechnungen
(nicht-zentrales t, F und Chi-Quadrat, Binomial, exakte Verteilung von
Korrelationskoeffizienten und mehr).
Durch den Einsatz von Poweranalyse kann man stets
sicherstellen, daß die Resourcen durch den Einsatz optimaler
Stichprobengrößen effizient genutzt werden. Man vermeidet, daß
die Forschungsergebnisse aufgrund zu geringer Zahlen unpräzise werden,
verschwendet auf der anderen Seite aber auch keine Mittel mit zu großen
Untersuchungsgruppen. Die Berechnung von Güte- und Vertrauensbereichen
stellt darüber hinaus eine weitere Bereicherung der Forschungsergebnisse
dar.
Detaillierte Informationen zu Poweranalyse finden Sie hier
.