In der Halbleiterindustrie ist das Erkennen und Analysieren von Defektmustern auf Wafern extrem wichtig. Genau hier setzt die von StatSoft entwickelte Wafer Map an.
Die Halbleiterindustrie ist geprägt von hochkomplexen Prozessen, immensen Datenmengen und einem stetigen Innovationsdruck. Wer hier erfolgreich sein will, benötigt nicht nur moderne Softwarelösungen, sondern auch einen Partner, der die Branche versteht und auf Augenhöhe unterstützt.
Die Fertigung gehört zu den Bereichen, die am meisten von den Möglichkeiten von Spotfire profitieren können – insbesondere bei der Bewältigung von Herausforderungen auf dem Weg zur Smart Factory.
In der industriellen Fertigung optimiert die Auswertung von Bilddaten die Überwachung und Identifikation von Defekten. Standardisierte Prozesse ermöglichen den Einsatz von Machine Learning (ML) zur Verarbeitung komplexer Bildsignale. Für anspruchsvollere Fragestellungen bieten AI-Modelle wie Convolutional Neural Networks (CNN) effektivere Lösungen. Erfahren Sie, wie vortrainierte Modelle die Effizienz steigern und welche Vorteile diese Technologie in der Praxis bietet.
Traditionelle statistische Methoden sind hervorragende Werkzeuge, aber sie haben gewisse Grenzen, was ihre Fähigkeit angeht, auf hochkomplexe Beziehungen in den Daten zu reagieren. Hier kommen KI und ML ins Spiel.
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